云南省分析测试中心 物理实验室 能够为客户提供材料分析,纳米材料分析,检测仪器及参数如下
1、场发射透射电子显微分析(FE-TEM):
主要用于金属、半导体、陶瓷以及各种纳米材料的研究和技术开发,用于观察分析以上固体物质和材料的微观形貌/尺寸、晶体结构和相组织,及其相应微区化学成分的定性和半定量分析等。面向材料科学、化学、物理学、地质学、生物学、医学 、环境科学等领域的科学研究。
检测参数:(1)透射电子明场成像、(2)暗场成像、(3)扫描透射成像、(4)选区电子衍射、(5)高分辨成像、(6)点/线/面的能谱分析、(7)样品制备:
2、 场发射扫描电子显微分析(FE-SEM):
化学、物理学、材料科学、地质学、生物学、医学、环境科学等领域关于金属、半导体、陶瓷、纳米材料、功能材料、生物材料的研究和技术开发,用于观察分析以上固体物质料的表面形貌、组织、取向及成分。
检测参数:(1)二次电子形貌像、(2)被散电子衬度像、(3)背散射电子物相分析与相鉴定、(4)能谱元素点、线、面成分评定;(5)样品制备:金、铂、铬碳膜的制备。
3、 钨灯丝扫描电子显微分析(SEM):
用于材料科学、地质学、化学、物理学、环境科学等领域的科学研究。主要面向金属及合金、半导体、陶瓷、矿物等的研究和技术开发,用于观察分析以上固体物质和材料的微观形貌/尺寸和相组织,及其相应微区化学成分的定性、半定量及定量分析。
检测参数:(1)二次电子形貌像、(2)被散电子衬度像、(3)能谱元素点、线、面成分评定;